X射线荧光光谱法测定锌铝硅合金中硅和铁

摘要：

采用岛津MXF-2400型多道X荧光光谱仪测定锌铝硅合金中硅及铁的含量,对样品分析面进行了选择,考察了分析面光洁度、样品放置时间对测定的影响条件.方法样品前期处理简便,分析速度快,灵敏度高,硅和铁的相对标准偏差(RSD,n=11)分别为1.15%和0.44%.与其他方法对照,结果相符.

关键词：X射线荧光光谱法、锌铝硅合金、硅、铁

所属期刊栏目：27

分类号：O657.34;O613.72;O614.811(分析化学)

在线出版日期：2008-05-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：77-78