X射线荧光光谱法测定铝矿石中主次痕量组分

摘要：

采用熔融玻璃片和粉末压片法制样,选用国家标准样品和人工合成标准样品,用经验α系数和散射线内标法校正元素间谱线重叠干扰和基体效应,使用Magix(PW 2403)X射线光谱仪对样品中的Al2O3、SiO2、Fe2O3、TiO2、K2O、Na2O、CaO、MgO、P2O5、MnO、S、Pb、Zn、Sr、Zr、V、Ga和Cr等组分进行测定,分析结果与标准值或化学法相符,12次测定的相对标准偏差小于10%.

关键词：X射线荧光光谱、经验α系数、散射线内标法、铝土矿、熔融法、粉末压片

所属期刊栏目：24

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2005-12-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：307-310