原子荧光光谱法测定铟中锡

摘要：

试验了采用原子荧光光谱法测定铟产品中锡时,以EDTA为络合剂掩蔽铟,利用EDTA与铟和锡形成络合物的稳定常数不同,克服基体铟对锡的正向干扰;优化了仪器测定条件,测定范围w(Sn)为0.001%～1.00%,标准加入回收率为99%～105%.所拟方法用于铟产品中锡的测定,结果与苯基荧光酮比色法和碘量法相符.8次独立分析的精密度(RSD)为2.4%～10%.

关键词：锡、原子荧光光谱法、正向干扰、铟

所属期刊栏目：24

分类号：O657.31;O614.432(分析化学)

在线出版日期：2005-11-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：233-234,236