X射线荧光光谱法测定地质样品中的氯和硫

摘要：

使用粉末压片-X射线荧光光谱法测定地质样品中的Cl和S,探讨了样品放置时间、环境以及建立真空的时间对测量结果的影响.Cl的精密度(RSD,n=6)小于10%,S的精密度(RSD,n=6)小于5%.Cl和S的方法检出限分别为14和11 μg/g,采用国家标准物质分析验证方法,其结果与标准值相符.

关键词：X射线荧光光谱法、氯、硫、真空度

所属期刊栏目：23

分类号：O657.34;O613.42;O613.51(分析化学)

资助基金：国土资源部地质调查项目1100209006

在线出版日期：2004-10-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：225-227