地质样品X射线荧光分析中的背景相关曲线及其应用

摘要：

采用粉末压片-X射线荧光法,测量了水系沉积物、土壤、岩石等国家一级标准物质.对用LiF(200)晶体在20.70°～48.00°衍射角(2θ)得到的X射线背景数据进行了研究.以30.97°和25.70°(2θ)为参考背景角度,进行了背景曲线的幂函数拟合,背景相对强度的拟合回代值与实测值的相对误差小于2.6%,多数小于1%.利用该拟合函数,可以计算出20.70°～48.00°内任意两个角度下的背景比值(背景系数).因此,实验中可以根据情况选取合适的公共背景角度,并用拟合函数计算各元素谱峰角度处的背景系数.可采用公共背景法的元素数为13个左右,适当延长公共背景点的测量时间,可以降低背景的统计涨落.

关键词：地质样品、X射线荧光光谱、背景曲线

所属期刊栏目：22

分类号：O657.34(分析化学)

资助基金：国土资源部地质调查项目DKD 9904017

在线出版日期：2003-09-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：161-164