基于DFT的含FPGA电路板的测试方法研究

摘要：

随着微电子技术的不断发展,复杂逻辑器件大量应用到武器装备电路板上,电路板结构功能日趋复杂.与此同时,芯片集成度的大幅提高使得外部可接触的引脚越来越少,这就导致常规的测试方法无法实现对该类电路板的有效测试,电路板维修、检测问题日益突出.因此,在电子设备设计的开始阶段就采用可测性技术.针对含FPGA电路板,对基于DFT的测试方法进行了研究.

关键词：逻辑器件、电路板、故障诊断、可测性设计

所属期刊栏目：31

分类号：TN47;TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2012-04-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：61-64,68