一种低成本的四节点翻转自恢复锁存器设计

摘要：

为了有效地容忍软错误,本文基于32nm CMOS工艺提出了一种低成本的四节点翻转自恢复锁存器(LCQNUS-RL).该锁存器由24个C单元构成,形成6×4的阵列结构,构建了四级过滤的容错机制.当锁存器内部任意四个节点发生翻转,经过C单元的阻塞后,该锁存器可自行恢复到正确值.采用HSPICE进行实验表明,与三个锁存器(LCTNURL,TNURL,LC-TSL)平均值相比功耗降低了 32.94％,延迟降低了 30.2％,功耗延迟积(power delay product,PDP)降低了 53.35％,晶体管数量增加了 25％,使用较多的晶体管实现了 QNUs自恢复,有着更高的可靠性.此外,所提出的锁存器对电压和温度的变化不敏感.

关键词：锁存器、C单元、自恢复、四节点翻转、软错误

所属期刊栏目：32

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金;国家自然科学基金

在线出版日期：2023-01-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：96-101