Bi-2223/Ag带的透射电子显微术研究
@@ 晶粒之间的连接性、晶粒取向,以及磁通钉扎是影响超导临界电流Jc的主要因素.要全面了解不同的结构特性就必须使用不同的研究方法.为检验退火过程中的相转变、织构(晶粒取向一致度)、化学计量的变化只能采用高能同步加速X射线衍射方法.这种方法可以研究1mm2~2mm2面积大小的平均特性.
2005-02-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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2005-02-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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