K2ZrF6含量对ZrH1.8表面微弧氧化阻氢膜层的影响

摘要：

采用微弧氧化技术在ZrH1.8表面制备阻氢膜层,研究在Na5P3O10-NaOH-Na2EDTA电解液体系中K2ZrF6含量对膜层组织结构和阻氢性能的影响.借助场发射扫描电子显微镜(FESEM)和X射线衍射仪(XRD)分析膜层的微观结构和物相组成.采用涂层测厚仪对膜层的厚度进行测量,通过真空脱氢实验表征膜层的阻氢性能.相比未加入K2ZrF6时,电解液中添加适量K2ZrF6有助于改善膜层的表面质量,减少膜层中微孔和裂纹等缺陷的出现.XRD分析表明,不同K2ZrF6浓度时ZrH1.8表面微弧氧化制备的膜层均主要由m-ZrO2,t-ZrO2和少量c-ZrO2相组成.膜层厚度和氢渗透降低因子(PRF)随K2ZrF6浓度的增加均呈先增大后减小趋势,当K2ZrF6为4 g·L-1时,膜层的厚度最大为68.7 pm,PRF最大为13.1,且膜层中大尺寸缺陷较少,添加K2ZrF6制备的陶瓷膜的阻氢性能均得到提高.K2ZrF6添加剂的加入可以使ZrH1.8表面微弧氧化膜层的厚度增大,致密性增强,进而阻氢性能提高,膜层表面质量也得到改善.

关键词：ZrH1.8、微弧氧化、阻氢膜层、氟锆酸钾

所属期刊栏目：45

分类号：TQ174.453

资助基金：国家自然科学基金;国家自然科学基金

在线出版日期：2021-04-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：27-33