10.3969/j.issn.0258-7076.2007.05.001
300 mm 硅单晶生长过程中热弹性应力的数值分析
采用有限体积元法软件CrysVUn对直拉法生长300 mm硅单晶热场和热应力分布进行了模拟,模拟考虑了热传导、辐射、气体和熔体对流、热弹性应力等物理现象.针对晶体生长过程中小形变量的塑性形变,以Cauchy第一和第二运动定律作为局部控制方程,考虑了硅单晶的各向异性,计算了<100>硅单晶生长过程中晶体内von Mises应力分布和变化规律,结果表明在等径生长阶段热应力上升最显著,界面上方晶体内热应力随晶体生长速率增大而升高.
热应力、模拟、300 mm、硅单晶
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TN304.1(半导体技术)
科技部国际科技合作项目2005DFA51050
2008-01-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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