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10.3969/j.issn.0258-7076.2005.06.026

工艺条件对直流磁控溅射沉积ITO薄膜光电特性的影响

引用
研究了采用直流磁控溅射法制备ITO透明导电膜时温度、靶材、氧压比、溅射气压、 溅射速率等工艺条件对ITO膜电阻率和可见光透过率等光电特性的影响.实验结果表明,用ITO陶瓷靶溅射镀膜要比In-Sn合金靶好,特别是在电阻率上,前者要低一个数量级左右;并由实验结果得到,当温度330 ℃,氧氩比1/40,溅射气压0.45 Pa和溅射速率23 nm·min-1左右时,可获得薄膜电阻率1.8×10-4 Ω·cm,可见光透过率80%以上的最佳光电特性参数.

磁控溅射、ITO膜、电阻率、透光率

29

TN304.055(半导体技术)

河南省科技攻关项目0224380029

2006-03-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

931-933

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0258-7076

11-2111/TF

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2005,29(6)

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