微带线的电磁耦合特性分析及实验验证

摘要：

为分析不同入射方式下的电磁波与微带线的耦合特性问题,将PCB板上微带线等效为有耗传输线模型,对辐照平面波进行矢量分析并求解等效激励源,利用BLT方程计算不同入射方式下的电磁波与微带线的耦合终端响应,针对仿真结果开展效应实验验证,仿真与实验结果吻合较好.研究表明,BLT方程可有效地解决电磁波与微带线的耦合问题,当电场平行于微带线或垂直于PCB平面入射时,可产生较强的耦合,且平行入射情况比垂直PCB入射情况在微带线终端激励起的峰值电压大一倍；幅度为1v/m的电场在微带线上激励的峰值电压可达到mV量级.

关键词：微带线、耦合特性、BLT方程、终端响应、峰值电压

所属期刊栏目：14

分类号：TN011.2(一般性问题)

资助基金：国家自然科学基金61201056

在线出版日期：2013-04-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：36-41