10.3969/j.issn.1671-6981.2005.01.010
刻板解释偏差测量
刻板解释偏差(Stereotypic Explanatory Bias, SEB)是测量内隐态度的一种指标,它反映了个体对某社会群体的刻板印象在信息加工过程中发生的作用.比较SEB与其他内隐态度测量方法后,发现SEB具有结合情境、自然反映内隐态度、预测性良好等特点.
刻板解释偏差、内隐态度、内隐社会认知
28
B84;B01
国家"211"工程建设项目
2005-05-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
42-44