关于LED光源黑化和排查方法的研究

摘要：

本文对LED光源的黑化问题进行了研究、分析.经过研究后发现:除了因电源电压超高而击穿LED芯片;因电流值超过额定电流而烧毁LED芯片,还与LED贴片的支架有很大的关系.支架内的镀银层在硫及卤化物存在的情况下,会使镀银层硫化或者卤化,进而生成深色或黑色的化合物晶体,导致LED的光通量下降,直至完全失效.所以,必须对LED光源的材料单元进行排查,以排除LED中期失效和寿命期望值内的失效的因素.此外,本文中笔者还对镀银层硫化或者卤化的排查设备和排查方法作了简要的介绍.

关键词：LED光源、黑化、排查方法、研究

所属期刊栏目：2

分类号：TN312.8(半导体技术)

在线出版日期：2018-08-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：34-36