TFT漏电流对Flicker影响及测试方法研究

摘要：

薄膜晶体管（TFT）作为像素单元充放电的开关，其漏电流（U大小是影响液晶屏性能的重要参数之一。文章利用薄膜晶体管的非晶硅层为光敏材料的特点，通过液晶屏翻转实验、背光亮度变化实验、min flicker-Vcom变化实验测量了flicker的大小，验证了光照强度增强导致k增加后，出现了flicker增大的现象，确定了k过高导致flicker的测试方法，通过实验进一步确定了k大小对flicker的影响。

关键词：液晶显示器、闪烁、薄膜晶体管漏电流

分类号：TN141.9(真空电子技术)

在线出版日期：2013-01-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：32-36