10.3969/j.issn.1006-6268.2010.10.008
金属氧化物IGZO薄膜晶体管的最新研究进展
最近几年,金属氧化物IGZO薄膜晶体管成为研究热点,具有高迁移率、稳定性好、制作工艺简单等优点,备受人们关注.文章综述了制作金属氧化物IGZO晶体管的结构及其优缺点,总结了影响金属氧化物IGZO薄膜晶体管性能的因素,并提出了制作高性能金属氧化物IGZO薄膜晶体管的方法.
薄膜晶体管、氧化铟镓锌、氧化物、器件结构
TN383.+1(半导体技术)
2010-11-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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