用干涉环法分析CSTN-LCD盒厚均匀性

摘要：

总结了CSTN空盒及实盒对应干涉环的一些情况,用劈尖原理推算了空盒干涉环明、暗环对应盒厚差值等,推算值与实测值基本相符;提出用实盒干涉环规整程度分析CSTN-LCD 盒厚均匀性或颜色均匀性,由此可以相应深入分析产生盒厚不匀的相关原因.

关键词：CSTN-LCD、空盒、实盒、干涉环、盒厚均匀性

分类号：TN141(真空电子技术)

在线出版日期：2008-11-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：41-44