B样条曲面拟合在Mura缺陷获取中的应用

摘要：

TFT-LCD Mura缺陷表现为对比度低、亮度区域不均匀、边界模糊,通常大于一个像素,会给观察者带来视觉不适,是一种比较常见的缺陷.长期以来.对Mura缺陷的检测都是由经过训练的专业检验员完成.近年来,研究人员开始研究利用机器来代替人眼检测,但机器如何获取Mura缺陷一直是行业内公认的难题之一.本文提出了基于B样条曲面拟和的方法来获取Mura缺陷信息,并通过对大量真实Mura缺陷样本的检测验证了该方法具有高的获取准确率.

关键词：Mura、TFT-LCD、曲面拟合、B样条

分类号：TN141.9(真空电子技术)

在线出版日期：2008-08-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：24-28