低温条件下STN-LCD响应时间的优化

摘要：

本文通过正交试验设计法得出STN-LCD在低温条件下工艺参数对响应速度影响.并从理论上分析了它与响应速度的关系,给出了响应速度最好的工艺参数..

关键词：低温、响应速度、正交试验设计

分类号：TN104(真空电子技术)

在线出版日期：2008-04-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：49-53