光耦的可靠性测试方法和试验

摘要：

介绍了调相型(过零)光耦可靠性试验的几种方法和试验数据,尤其是对调相型光耦的脉冲电流冲击试验做了详细的描述.同时提示大家如何选择可靠性较高的光耦.最后,列举了一个典型的实验,说明了光耦可靠性的重要性.

关键词：光耦、可靠性、脉冲电流

分类号：TN622(电子元件、组件)

在线出版日期：2007-11-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：57-60