基于全微分法解平面尺寸链及孔系坐标公差的计算通式

摘要：

在工艺尺寸链中,平面尺寸链较为繁杂,在箱体孔系、斜孔加工及装配工艺中常需解算.本文以微分学原理对尺寸公差进行系统处理,不仅简化了分析计算,而且由于同时考虑了常被忽略的角度误差,极大的提高了计算的精确性和合理性,并由此首次推导出孔系坐标公差的极值法公式和概率法公式,极大的方便了机制工艺人员的工艺工装设计.

关键词：全微分、平面尺寸链、坐标公差、角度误差

分类号：TH12

在线出版日期：2006-03-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：29-31,34