用XRF测定氧化铝陶瓷成分

摘要：

介绍了使用X射线荧光光谱法测定氧化铝陶瓷主次量成分。用熔融玻璃片法制样，此方法简单，迅速，成本低。选用铝土矿GBW07177～GBW07182和GSB04—2606—2010系列标准样品，采用仪器软件SuperQ中提供的飞利浦模式的经验系数（Classic）和基本参数法校正元素间的谱线重叠干扰和基体效应，使用Magix（PW2403）x射线荧光光谱仪对样品中的Al2O3，SiO2，Fe2O3，TiO2，K2O，Na2O，CaO和Mg0共8个元素进行测定，各组分的RSD均小于3．36％，测量结果与计算值的误差在化学分析允许差范围内。

关键词：X射线荧光光谱、经验系数、基本参数法、熔融玻璃片法、氧化铝陶瓷

分类号：TQ174.758

在线出版日期：2012-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：43-47