10.3969/j.issn.1005-1198.2004.01.008
ZnO压敏电阻器的性能及发展
简要回顾了ZnO压敏电阻器的历史,阐述了ZnO压敏电阻器的性能以及当前基础性研究的现状,并对其发展进行了展望.研究了Bi2O3和TiO2的掺杂对低压ZnO压敏电阻性能和微观结构的影响规律,从理论上分析了Bi2O3和TiO2添加剂的作用机理.为ZnO压敏电阻的低压化提供了理论依据和方法.
ZnO压敏电阻器、性能、发展、添加剂、Bi2O3 TiO2、晶粒生长
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TQ174
2005-10-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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