基于ATE的传输延迟测试方法优化

摘要：

目前利用数模混合集成电路自动测试机(ATE)测试系统测试纳秒级传输延迟时,由于信号发生单元驱动能力限制,多采用程控外接仪器进行测试,大批量测试时无法满足生产需求.文中介绍数模混合集成ATE测试系统的工作架构和传输延迟时间的测试原理,分析了基于数模混合ATE测试系统的时间测量单元(TMU)的工作原理和采用程控外接仪器的时间测试方法,通过对两种测试方法的对比,总结了优化TMU测试方法取代程控外接仪器的必要性.以MOSFET为研究对象,研究导致传输延迟测量误差的原因,通过增强ATE的信号驱动能力优化了TMU测试方法.试验结果表明,优化后传输延迟测试方法与MOSFET器件规范中的典型值基本一致,并且提高了测试效率,满足了大批量测试的需求.

关键词：自动测试设备(ATE)、传输延迟、集成电路、程控、时间测量单元(TMU)、MOSFET

所属期刊栏目：46

分类号：TN47-34;TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2023-10-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：39-43