异步FIFO抗SEU设计

摘要：

在高空高能粒子的影响下,航天或航空电子设计中广泛使用的异步FIFO容易产生单粒子翻转,从而导致功能紊乱甚至失效.因此在面向航天或航空的高安全电子设计中需采用容错设计来提高异步FIFO电路的抗辐射能力.但传统的三模冗余设计应用于异步FIFO时有一定的局限性,会出现由指针错误引起的某一通道的数据持续出错、跨时钟域导致的输出数据不同步等降低三模冗余防护能力的问题.针对该问题,文中提出适用于异步FIFO的新的电路结构及三模冗余方案.经仿真证明,采用新三模冗余方案构建的异步FIFO在辐射环境下能快速纠正指针错误,同步三路冗余数据,使其具有更高的单粒子防护效果.

关键词：异步FIFO、抗SEU、三模冗余、容错设计、端口加固、仿真分析

所属期刊栏目：46

分类号：TN702-34(基本电子电路)

资助基金：国家重点研发计划2021YFB1600601

在线出版日期：2023-06-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：160-164