一种可编程式模拟芯片自动测试方法及其应用

摘要：

针对电池保护芯片的传统测试方法的缺点和测试需求,文中基于ACCOTEST STS8200测试平台,设计一种用于电池保护芯片的自动测试方案.首先分析电池保护芯片的过充、过放、过流及过温等功能测试需求,给出测试电路;然后针对芯片的各项关键指标依次设计测试程序,并提出一种基于可编程控制的OTP Trimming算法;最后,设计测试板并在测试机上进行测试验证.文中提出的测试方案采用软件菜单选项和野口转接板设计方法,可大大缩短芯片测试的开发周期.结果表明,在测试31631颗芯片后,芯片的测试良率为99.35％,且Trimming后数据的均值为2254 mV,标准差为1.766.说明文中测试方案有效且可靠性较高,达到了可编程控制的灵活性要求.

关键词：模拟芯片、自动测试方法、OTP Trimming技术、芯片功能测试、测试板设计、测试验证

所属期刊栏目：45

分类号：TN407-34(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：陕西省重点研发计划项目;西安市科技计划项目;国家自然科学基金

在线出版日期：2022-04-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：29-34