一阶动态电路暂态过程分析及其仿真测试

摘要：

针对一阶动态电路暂态过程的实验室测量存在测试欠便捷全面及不易测试的弊端,在对一阶动态电路暂态过程分析的基础上,研究将Multisim仿真引入其测试中.利用Multisim参数扫描分析功能,实现在方波激励下方便全面地测试元件参数变化时的所有响应,将实验室不可能同时观测的波形集于一体;利用Multisim瞬时分析仿真功能,研究正弦激励下暂态过程的过电压情况测试,弥补了实验室观测不到的缺陷,从而有利于防范实际工程的过电压危害.测试结果表明,该电路仿真与理论分析一致,仿真测试便捷直观,仿真效果理想,对动态电路暂态过程的应用有着重要意义.

关键词：动态电路、暂态过程、RC电路分析、电路仿真测试、过电压规避、过电压测试

所属期刊栏目：44

分类号：TN495-34;TP391.9;TM131.2(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：北京市自然科学基金项目4174086

在线出版日期：2021-03-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：63-66