基于可测试性技术的测试矩阵优化研究

摘要：

可测试性技术在机载电路板中的应用使故障诊断问题得到快速发展,但是测试时间长,测试成本高.为了缩短测试时间,降低测试成本,基于MCSA算法、等权值抗误判算法、极小权值-极大相异性算法,融合改进的测试矩阵优化算法,使测试矩阵更加优化,测试向量数量减少.经实验验证,运用优化后的测试矩阵进行测试可以有效缩短测试时间,提高测试效率,降低测试成本.

关键词：可测试性技术、故障诊断、机载电路板、测试时间、测试成本、测试矩阵

所属期刊栏目：43

分类号：TN407-34;TP301.6;TP306+.3(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金项目;国家自然科学基金项目;中央高校基本科研业务费项目

在线出版日期：2020-11-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：137-142