期刊专题

10.16652/j.issn.1004-373x.2019.01.032

某弹上存储装置的FLASH阵列无效块管理可靠性设计

引用
针对某弹上存储设备的性能测试要求,以及FLASH芯片存储时无效块管理困难的特性,为了实现数据的大容量、高速存储需求,在流水线架构下提出应用无效块快速检测和管理的方法.将FLASH存储矩阵的地址分块组合后,对组合后的存储单元进行无效块识别、处理.另外,对工程应用中突发无效块导致的数据存储不连续的问题,采用滞后重新写入的方法.经过相关参数的测试,该方法已经成功运用到某弹上存储器.通过大量试验证明,存储体系的存储速率以及容量均满足设计指标,工作稳定可靠.

组合块、无效块检测、存储矩阵、流水线、可靠性、FLASH

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TN409-34;TP301(微电子学、集成电路(IC))

2019-02-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

143-146

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现代电子技术

1004-373X

61-1224/TN

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2019,42(1)

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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

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