基于结构特征与LLE算法的数字仪表校验系统

摘要：

针对数字仪表校验人工读取数据时存在的误差问题,提出一种基于多特征与局部线性嵌入算法(LLE)结合的数字仪表校验方法.首先将字符图像从RGB转换到HSI色彩空间,在I空间对图像进行分割,并利用投影法分割出单个字符;然后对字符图像提取结构特征,由于单纯的结构特征对字符的描述不足,导致识别精度较低,故文中利用LLE算法对字符二值图像降维,将降维后的像素特征与结构特征相结合;最后,利用支持向量机(SVM)对字符特征进行识别.实验结果显示,所提方法提高了校验系统的字符识别率.

关键词：数字仪表、校验系统、结构特征、LLE算法、图像处理、降维

所属期刊栏目：41

分类号：TN873+.5-34;TP391(无线电设备、电信设备)

在线出版日期：2019-01-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：10-13,17