10.16652/j.issn.1004-373x.2018.04.016
高速光耦瞬态共模抑制性能的电路仿真方法
为了解决高速光电耦合器的瞬态共模抑制不能准确测试的问题,研究了光耦的耦合机理和瞬态共模抑制的测试原理.利用仿真技术对电路功能及瞬态共模抑制评估电路的耦合参数(包括耦合电阻与耦合电容)进行仿真和验证,分析了电路中的不同器件参数对仿真结果的影响,并且对得到的输出波形的数据进行读取与分析.以HCPL-2611为例,使用大电阻和小电容并联的模型模拟实际中的耦合情况,通过仿真分析确定了耦合电容的大小,验证了高速光耦瞬态共模抑制仿真方法的有效性.
瞬态共模抑制、PSpice仿真、高压脉冲、耦合参数、耦合电阻、耦合电容
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TN364+.2-34(半导体技术)
国家自然科学基金61376042Project Supported by National Natural Science Foundation of China61376042
2018-03-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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