Buck电路IGBT老化失效的特征分析

摘要：

绝缘栅双极型晶体管（IGBT）常被应用于汽车、火车的电机控制系统以及航空航天设备的开关电源中。IGBT的失效会导致系统的效率下降，严重的会直接导致系统失效。通过识别和监测IGBT失效所导致电路特性参数的变化可以做到对其失效的预测和避免。为研究IGBT老化是否会对电路输出特性造成影响，以Buck电路为研究对象，设计了大电流下便于替换IGBT的Buck电路，对IGBT进行热应力老化实验，获取老化后的IGBT，并将老化后的IGBT引入到设计的Buck中，实验分析了IGBT老化对于Buck电路输出电压的影响。得出IGBT的老化会导致Buck电路输出电压平均值增大、高频杂波幅值增大的结论，为进一步实现电路中IGBT老化的检测以及初期的故障诊断提供了可供提取的特征参数。

关键词：IGBT、Buck电路、老化失效、特征分析

所属期刊栏目：39

分类号：TN710-34(基本电子电路)

资助基金：江苏省教育厅项目13kjd520004；国家青年科学基金项目61302167；金陵科技学院教改项目2015JYJG22；金陵科技学院科研基金项目JITN201523

在线出版日期：2016-05-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：126-129