基于主从式架构的光强度检测系统

摘要：

描述了一种基于主从式架构，从机基于STM32F107的32位微处理器实现光强度数据采集，主机应用C#编程语言实现数据处理的光强度检测系统。该系统在主机端采用串口通信类库，实现程序对光强板、程控电源、PLC的控制和数据接收。主机程序的核心功能还包括光强标定和二次校准，修正硬件因素和外界条件存在的误差。系统对接收到的数据做优化处理并转换为需要的格式，样品测试的曲线分别在极坐标、直角坐标和数据列表中显示，便于数据分析。该系统可广泛应用于光源与照明领域。

关键词：C#、光强检测、STM32F107微处理器、主从式架构

所属期刊栏目：39

分类号：TN15-34;TP274+.2(真空电子技术)

资助基金：佛山市科技发展专项资金项目2012AA100361；2014年广东省公益研究与能力建设专项资金项目；国家自然科学基金项目61275214；2014年广东省教改项目GDJG20142366

在线出版日期：2016-05-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：134-137