基于最优Gabor滤波与局部二值模式的物体表面缺陷检测

摘要：

通过对物体表面缺陷的研究，提出一种新的缺陷检测方法。该方法首先利用Gabor滤波器组得到多尺度多方向的滤波图像，通过代价函数选取缺陷与非缺陷局部反差最大的图像通道作为最优滤波通道，在最优通道上用LBP算子进一步提取局部特征，最后用支持向量机对其进行分类检测。该方法应用于织布瑕疵和钕磁铁表面缺陷检测，与传统的Gabor滤波器等表面缺陷检测方法相比，具有更高的检测率。

关键词：Gabor滤波、局部二值模式、缺陷检测、支持向量机

分类号：TN911.73-34

在线出版日期：2015-05-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：100-103