基于图像处理的石英晶片定位技术研究

摘要：

为了实现自动测量石英晶片的频率等相关参数并进行分档，研究了石英晶片的图像定位技术，主要利用图像处理技术对采集的图像进行图像二值化、边缘检测、轮廓提取等处理，完成对石英晶片中心的定位。经验证，该石英晶片定位技术能够在保证系统要求的石英晶片分选速度的前提下实现石英晶片的准确定位。

关键词：石英晶片、定位技术、图像处理、自动分选

分类号：TN911.73-34

资助基金：机电系统测控北京市重点实验室开放项目石英晶片外观缺陷检测技术研究5231423200

在线出版日期：2015-01-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：109-111,114