漏泄同轴电缆测试系统

摘要：

通过对VISA虚拟架构的研究，以NI LabVIEW 8.20开发环境为基础，通过GPIB接口与R&S FSL3以及R&S SMB100A进行连接，以USB接口与NI USB-9162相连，并以Microsoft Office Access数据库作为载体，进行损耗测量数据记录、分析、报表生成等工作，共同构建了一个漏泄同轴电缆测试系统。该测试系统已在江苏一知名电缆制造工厂投入测试应用。

关键词：VISA、LabVIEW 8.20、Access、漏泄同轴电缆测试系统

分类号：TN911.7-34

在线出版日期：2014-07-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：129-131