期刊专题

10.3969/j.issn.1004-373X.2014.03.036

APD单光子计数的主动抑制系统

引用
设计了一种主动抑制系统,用以控制APD在单光子计数检测时的死区时间。该系统主要利用ECL(射随耦合逻辑)电平电路对雪崩脉冲进行快速甄别从而判断光子到来与否,再将比较器输出的脉冲通过整形处理输出给延时电路,利用CPLD搭建延时电路,输出两路延时脉冲,两路延时脉冲分别输出给主动抑制电路和快恢复电路,以完成APD死区时间的控制。此主动抑制系统,有效地将死区时间缩短在45 ns;将光子计数率提高到20 MHz。

APD、主动抑制、死区时间、ECL电平、CPLD

TN911.74-34;TH776

北京市教育委员会科技计划重点项目KZ201010772032;北京市教委面上项目SQKM201211232007“;光电信息与仪器”北京市工程研究中心GD2011001;北京市教委科技面上项目KM201311232005

2014-03-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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现代电子技术

1004-373X

61-1224/TN

2014,(3)

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