基于遗传新陈代谢灰色模型的电子设备故障预测研究

摘要：

经过研究分析，序列光滑度和背景值构造是常规灰色GM（1，1）模型误差的主要来源。针对这一问题，提出了一种改进的方法：首先对建模序列进行对数平滑处理，而后利用遗传算法对背景值进行寻优，并形成改进的新陈代谢GM（1，1，λ）模型。最后通过实例验证，表明改进的新陈代谢模型具有更高的预测精度，可用于电子设备的寿命预测。

关键词：序列光滑度、背景值、遗传算法、新陈代谢GM(1,1、λ)模型、电子设备

分类号：TN710-34;N941.5(基本电子电路)

在线出版日期：2014-01-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：86-89