一种改进的对抗软错误电路结构设计

摘要：

给出了一种改进的基于时钟沿的自我检测和纠正的电路结构,以纠正由单粒子翻转( SEU)引起的数据错误.简单概述了已有的检测和纠正SEU的电路结构,并在该电路的基础上提出了改进的电路结构,以实现对触发器以及SRAM等存储器的实时监控,并可以及时纠正其由于SEU引起的数据错误.采用内建命令进行错误注入模拟单粒子翻转对电路的影响.改进的电路与原来的电路相比,以微小的面积和较少的资源换取更高的纠错率.

关键词：SEU、检测和纠正、时钟沿、FPGA、触发器

所属期刊栏目：34

分类号：TN710-34(基本电子电路)

在线出版日期：2012-03-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：184-187