10.3969/j.issn.1004-373X.2011.06.043
导电聚合物薄膜电阻率测量系统的设计
介绍一种实用的导电聚合物薄膜电阻率测量系统.电阻率的测量原理基于四探针法与比率测量法,以低值恒压激励代替恒流激励,使2种方法结合在一起;然后以ARM7微控制器为系统核心,构建了量程自适应的半自动式系统架构;对电路实际能达到的分辨率和设计要求分辨率进行详细的分析;最后测量了系列标准电阻和部分导电聚合物薄膜样品的电阻率值,与标准方法进行了对比,分析了系统各项指标.
电阻率、四探针、比率测量法、导电聚合物薄膜
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TN710-34;TQ317.3(基本电子电路)
国家自然科学基金资助项目20773044
2011-06-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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