基于ARM的便携式晶体管参数测量平台研制

摘要：

介绍一种晶体管参数测量平台的方案.给出硬件组成和软件流程.使用ARM处理器及WinCE系统作为软硬件基础.以S3C2410为核心控制电路,利用12位D/A模块TLV5618产生稳定的控制电压、10位A/D模块TLC1543完成电压测量.将晶体管参数测量平台与单片机及传统示波器测量平台做了比较,其测量精度高于示波器,并且在对数据的分析处理能力及速度上ARM优于单片机,结果表明该系统性能可靠、速度快、精度高且便携.

关键词：晶体管参数测量平台、S3C2410、Windows CE.NET、ARM、处理器

所属期刊栏目：33

分类号：TN307(半导体技术)

在线出版日期：2010-05-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：40-42