基于March C-算法的单片机存储器测试

摘要：

为了保证单片机系统的可靠性,对单片机内嵌存储器的测试显得尤为重要.根据MCS-51系列单片机系统内嵌存储器的结构特点和故障模型,研究了测试算法的选择、数据背景的产生等问题,首次提出将March C-算法用于单片机内嵌存储器的用户级测试程序编写.该测试程序对SAF,TF,AF,CF的故障覆盖率可达到100%,并且能够检测部分NPSF故障,具有较高的故障覆盖率,适合于对用户级MCS-51系列单片机存储器的测试.

关键词：单片机、March、C-算法、存储器测试、故障覆盖率

所属期刊栏目：33

分类号：TP333(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2010-05-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：19-21,33