一款雷达芯片的基于扫描路径法可测性设计

摘要：

针对一款雷达芯片电路采用基于扫描路径法的可测性设计,在设计过程中采用时钟复用技术、IP隔离技术,以及针对具体的时钟产生电路采用了其他特殊处理技术;通过采用多种恰当有效的可测性设计策略后,大大提高了该芯片电路可测性设计的故障覆盖率,最终其测试覆盖率可达到97%,完全满足设计指标的要求.

关键词：可测性设计、扫描链、扫描寄存器、故障覆盖率

所属期刊栏目：32

分类号：TN95

在线出版日期：2009-06-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：30-32