期刊专题

10.3969/j.issn.1004-373X.2009.02.001

阻变型非易失性存储器单元电路结构设计与Spice仿真

引用
为进一步确定阻变型非易失性存储器的擦写速度、器件功耗和集成度等实用化的性能指标,设计RRAM存储器单元电路结构,并使用HSpice软件分别对RRAM存储器单元结构电路的延时和功耗性能进行仿真.同时,通过仿真对双极型和单极型两种电阻转变类型及器件工艺进行比较和分析,确定1T1R结构电路单元适用于双极型阻变型非易失性存储器件,并且电路仿真的结果为阻变型非易失性存储器的进一步实用化提供了参考.

非易失性存储器、电阻转变特性、存储单元结构、1T1R

32

TN710(基本电子电路)

国家自然科学基金资助项目60576066;国家自然科学基金主任资助项目60644007

2009-04-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

1-3

暂无封面信息
查看本期封面目录

现代电子技术

1004-373X

61-1224/TN

32

2009,32(2)

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn