利用过采样技术提高ADC测量分辨率

摘要：

针对目前单片机内嵌ADC分辨率较低,而外接高分辨率ADC成本又较高的情况,提出了用"过采样"技术使在有用的测量频带内的信噪比得到改善,从而提高ADC测量的分辨率.并利用Matlab对其结论进行仿真,且在TMS320LF2407 DSP上予以实现,结果表明信噪比和测量分辨率明显提高.

关键词：过采样、模/数转换器、数据采集、数字信号处理

所属期刊栏目：30

分类号：TP274(自动化技术及设备)

在线出版日期：2007-07-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：74-76,79