数模混合信号的测试与仿真

摘要：

VLSI的发展特别是SoC的出现,对混合信号测试的研究提出了紧迫的要求.结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点,本文着重讨论了目前现有的各种测试手段及其各自的特点.

关键词：片上系统、混合信号、扫描测试、内置自测试、故障仿真

所属期刊栏目：27

分类号：TP352(计算技术、计算机技术)

资助基金：高等学校博士学科点专项科研项目20020532016;湖南省杰出青年科学基金

在线出版日期：2004-12-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：80-82,93