LTE终端带内辐射测量算法

摘要：

针对带内辐射功率的测量需求。提出了一种LTE终端带内辐射测量算法。该算法对基本带内辐射、IQ镜像和载波泄漏三种带内辐射功率分别进行计算，准确地测量了带内辐射功率。使用带内辐射测量算法分别对含有直流和消除直流的时域信号进行仿真，仿真结果证明该算法可用于测量带内辐射功率，结果准确可靠。

关键词：LTE、带内辐射、测量、功率

分类号：TN929.5

在线出版日期：2013-03-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：18-21