TD-LTE综合测试仪表基带信号生成的研究与实现

摘要：

在对TD-LTE无线终端综合测试仪表的深入研究后,提出了一种TD-LTE系统中下行链路基带信号生成的实现方案,硬件资源得到了较大的优化。在实际的硬件环境下,通过仪表测试验证了该方案的可行性和有效性。

关键词：TD-LTE综合测试仪、基带信号生成、FPGA

所属期刊栏目：41

分类号：TP31(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家科技重大专项2009ZX3002-009

在线出版日期：2012-04-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：18-22