PI参数自整定扫描探针显微镜控制器的设计

摘要：

为了解决传统扫描探针显微镜(SPM)控制器中参数难以设定的难题,提出了一种SPM的PI参数自整定控制器的设计,并给出了控制器的硬件结构和软件设计.该控制器基于DSP,通过引入扫描式参数优化算法来实现.结果表明,该控制器能自动完成PI参数的测算,并给出最优的PI参数,提高了SPM扫描图像的质量.

关键词：PI参数自整定控制器、扫描探针显微镜、DSP

分类号：TP21(自动化技术及设备)

在线出版日期：2008-10-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1-4