PZT铁电薄膜的雾化湿法刻蚀技术研究
PZT薄膜的微图形化是制备基于PZT薄膜微传感器和微驱动器的关键技术之一.通过引入雾化技术,改进了传统的PZT薄膜湿法刻蚀方法,进一步减小了薄膜微图形的侧蚀比,提高了图形的转化精度.选用体积比为1∶2∶4∶4的BHF/HCl/NH4Cl/H2O溶液作为刻蚀液,对溶胶-凝胶法制备的1μm厚PZT薄膜作雾化湿法刻蚀,刻蚀速率为28 nm/s,侧蚀比为0.5∶1.对所得样品表面区域进行EDS分析表明,所得PZT薄膜图形表面无残留物,该工艺可用于MEMS领域中PZT薄膜的微图形化.
PZT薄膜、湿法刻蚀、雾化
TN304(半导体技术)
2006-12-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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